Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5 - Юрий Раков

Пятая часть учебного пособия посвящена подробному анализу физических процессов, протекающих в полевых транзисторах на основе арсенида галлия с барьером Шоттки. Этот тип транзисторов является наиболее быстродействующим и широко применяется в СВЧ-диапазоне. В книге представлена электрофизическая модель полевых транзисторов данного типа, а также приведены практические результаты, подтверждающие адекватность разработанной модели. Материал пособия будет полезен студентам, специализирующимся в области проектирования высокоскоростных электронных устройств на основе твердотельной элементной базы.

В учебном пособии в 4-х частях излагаются основы физики процесса, протекающего в ключевых приборах полупроводниковой электроники: полевых транзисторах, использующих принцип напряжения на гетерогранице, оксидных полупроводниках, биполярных транзисторах и источниках тока.

Электронная Книга «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5» написана автором Юрий Раков в году.

Минимальный возраст читателя: 0

Язык: Русский

ISBN: 978-5-7782-1618-1


Описание книги от Юрий Раков

В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.



Похожие книги

Информация о книге

  • Рейтинг Книги:
  • Автор: Юрий Раков
  • Категория: Учебники и пособия для вузов
  • Тип: Электронная Книга
  • Язык: Русский
  • Издатель: Новосибирский государственный технический университет
  • ISBN: 978-5-7782-1618-1