Книга "Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells" посвящена передовым методам характеризации тонкопленочных солнечных батарей. Она имеет большое значение для научных и корпоративных исследований и разработок в области фотовольтаики. После введения в тонкопленочную фотовольтаику, высококвалифицированные эксперты рассказывают о методах характеризации устройств и материалов, таких как анализ электролюминесценции, спектроскопия емкости и различные методы микроскопии. В последней части книги представлены методы моделирования, которые используются для расчетов семикондукторов и моделирования устройств в 1D, 2D и 3D. Новое издание также включает в себя термографию, транзиентные оптоэлектронные методы, а также спектроскопию поглощения и фототока. Книга основана на проверенной концепции и представляет собой ценный ресурс для исследователей и инженеров, работающих в области фотовольтаики.
This book focuses on the development and application of advanced methods to characterize thin film solar cells. The authors present both experimental and theoretical approaches to investigate the structural and opto-electrical properties of different cell structures.
В книге рассматриваются передовые методы получения информации о солнечных элементах, изготовленных из тонких пленок, которые зарекомендовали себя как в научных исследованиях, так и в корпоративных проектах в области фотовольтаики. Вводные сведения о фотовольтаике соседствуют с сообщениями экспертов с большим стажем о методах определения характеристик устройств и материалов, таких как электролюминесценсное исследование, спектроскопия емкости и разнообразные методы микроскопии.
Электронная Книга «Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells» написана автором Группа авторов в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527699018
Описание книги от Группа авторов
The book focuses on advanced characterization methods for thin-film solar cells that have proven their relevance both for academic and corporate photovoltaic research and development. After an introduction to thin-film photovoltaics, highly experienced experts report on device and materials characterization methods such as electroluminescence analysis, capacitance spectroscopy, and various microscopy methods. In the final part of the book simulation techniques are presented which are used for ab-initio calculations of relevant semiconductors and for device simulations in 1D, 2D and 3D. Building on a proven concept, this new edition also covers thermography, transient optoelectronic methods, and absorption and photocurrent spectroscopy.
