Эта книга посвящена теории, предпосылкам и практическому использованию просвечивающих электронных микроскопов с корректорами аберраций, которые могут исправлять эффекты сферической аберрации. Книга также охватывает сравнение с коррекцией аберраций в ПЭМ и применения аналитического ПЭМ с коррекцией аберраций в материаловедении и биологии. Эта книга необходима для микроскопистов, занимающихся исследованиями в наномасштабе и микроанализом материалов, особенно тех, кто использует растровую просвечивающую электронную микроскопию и связанные с ней аналитические методики, такие как электронная дифракционная рентгеновская спектрометрия (ЭДРС) и электронная спектроскопия потерь энергии (ЭСПЭ).

Книга посвящена теории, основам и использованию в практических целях трансмиссионных электронных микроскопов с линзовыми корректорами для коррекции сферической аберрации. В книге также приводится сравнение с коррекцией аберраций в ТЕМ и области применения аналитически скорректированных СТМ в материаловедении и биологии. Книга будет полезна микроскопистам, работающим в области наномасштабов и анализа материалов, особенно использующим сканирующую трансмиссионную электронную микроскопию, и связанным с ней методам анализа, таким как рентгеновское спектроскопия потерь энергии электронов (ЭДХ) и спектроскопию потерь энергии электронов.

Электронная Книга «Aberration-Corrected Analytical Transmission Electron Microscopy» написана автором Rik Brydson в году.

Минимальный возраст читателя: 0

Язык: Английский

ISBN: 9781119978855


Описание книги от Rik Brydson

The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron microscopes with lens correctors that can correct the effects of spherical aberration. The book also covers a comparison with aberration correction in the TEM and applications of analytical aberration corrected STEM in materials science and biology. This book is essential for microscopists involved in nanoscale and materials microanalysis especially those using scanning transmission electron microscopy, and related analytical techniques such as electron diffraction x-ray spectrometry (EDXS) and electron energy loss spectroscopy (EELS).



Похожие книги

Информация о книге