С каждым годом микроскопические исследования становятся все более доступными и понятными широкому кругу пользователей.
Производители делают упор на удобство и простоту интерфейса, одновременно расширяя набор функций для проведения более точных и качественных исследований.
В этом обзоре мы рассмотрим использование электронного сканирующего микроскопа.
JEOL JCM-7000 от Nikon и Jeol на практике.
Немного теории
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) предназначен для получения изображения поверхности объекта с высоким разрешением.Он распознает состав, структуру и свойства приповерхностных слоев.
Пример фотографии, сделанной с помощью SЭM Такие микроскопы широко используются при исследовании материалов и их повреждений, в электронной и полупроводниковой промышленности, биологии, химии, медицине и многих других областях.
Устройство микроскопа основано на принципе взаимодействия электронного луча с исследуемым объектом.
По сравнению с традиционными методами микроскопии SЭM обладают улучшенным разрешением, высокой глубиной резкости и способностью отображать композиционные и топографические контрасты.
ДЖЕОЛ JCM-7000
Основная идея микроскопа – принцип «Простоты в использовании».Производитель стремится сделать процесс исследования удобным и понятным для пользователей любого уровня подготовки.
Сам микроскоп JCM-7000 мобильный и не занимает много места.
Для его установки вам понадобится только стол, стандартная евророзетка и персональный компьютер с операционной системой Windows 10.
Упражняться
Сразу после загрузки образца в камеру его оптическое изображение автоматически фиксируется и отображается на экране.
Управление рабочим процессом осуществляется с помощью трех кнопок в левой части экрана.
Значки вверху отображают основные функции и позволяют выбрать режим работы устройства, скорость сканирования образца, настройки диафрагмы, глубину резкости, яркость и контрастность.
Строка меню в нижней части экрана обеспечивает доступ к более расширенным настройкам.
С помощью функции Zeromag по мере увеличения области интереса происходит плавный переход от изображения оптического микроскопа к изображению SЭM. 
Функция Зермаг Для того, чтобы перейти в определенную зону наблюдения, необходимо навести курсор на экране в ее центр и дважды нажать левую кнопку мыши, либо, зажав ее, перетащить мышь в сторону.
Масштабирование осуществляется с помощью колеса мыши.
JEOL JCM-7000 поддерживает работу с мониторами, имеющими функцию Touchscreen, что дает возможность управлять изображением – увеличивать, перемещать и вращать сцену, касаясь экрана.
Сенсорный экран JEOL JCM-7000 Микроскоп позволяет получать изображения в режимах обратного рассеяния и вторичных электронов.
Использование функции Мультипросмотр , вы можете работать с изображениями, полученными в обоих режимах одновременно.
Также возможно отображение объединенного изображения, полученного с обоих детекторов.
Режимы Живой анализ и живая карта позволяют совмещать наблюдение за изображением SЭM и элементный анализ ЭDS и наблюдать пространственное распределение элементов в любой момент. Итак, с помощью микроскопа проводим:
- Детальный анализ образца
- Автоматический качественный и количественный анализ полученного спектра
- Отображение карт распределения элементов зоны наблюдения
Для проведения автоматического качественного и количественного анализа выберите интересующую область на экране наблюдения и нажмите соответствующую кнопку на панели управления.
Выбираем режим анализа: по выделенной области или вдоль линии.
Живой 3D-режим
JCM-7000 одновременно отображает CM- и 3D-изображения в реальном времени.Для быстрого определения формы образцов со сложной топографией можно получить данные о толщине.
Изображения в реальном времени в режимах отражения электронов и 3D.
УЛЫБКА ВЗГЛЯД Лаборатория
Отдельно стоит отметить программу управления данными SMILE VIE Lab, которая обрабатывает полученную информацию и экспортирует данные в отчет одним щелчком мыши.
После чего его можно экспортировать в PDF, Microsoft Word или PowerPoint. 
Ээкран управления данными Smile View Lab
Иван Кривенков
Специалист по оптическим измерительным системам Nikon в Lukon PRO Теги: #нанотехнологии #обзор #материаловедение #Nikon #sem #JEOL #сканирующий микроскоп #JCM-7000-
Есть Ли Смысл В Офисных Запретах?
19 Oct, 24 -
Звуки Венеры
19 Oct, 24 -
Компьютеры В Немецком Музее
19 Oct, 24 -
Api Виртуальной Машины И Rest
19 Oct, 24 -
Неразрушимый Ручной Самодельный Фонарик.
19 Oct, 24 -
Searchmash: Новый Поисковый Интерфейс Google
19 Oct, 24
